多数個同時測定/ペリフェラル配列測定用

4辺にパッドが配置されたペリフェラル配列のICや、多数個同時測定に適したプローブカードです。
  • 高低温の環境下で使用可能
  • 短納期に対応
  • FPD関連製品

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  • Probe Card

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  • Wafer Prober

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  • Tester

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