Tester
半導体試験装置(テスタ)
ウェーハ検査工程やパッケージ後の最終工程でデバイスの良否判定をおこなう装置です。
MJCは、半導体ICの開発／不良解析から量産まで、ニーズに適したテストソリューションをハード・ソフト両面からご提案します。
お客さまのデバイスとテスト環境に応じ、3種類の共通プラットフォーム化された筐体をラインナップしました。
テスト環境や予算に応じ、ご要望に合わせて機能を絞り込んだコストパフォーマンスの高い専用テスタ／テストシステム開発を承ります。
- 要望に応じた新たなテスト・モジュールの提供が可能で、幅広いデバイスのテストに対応
- テストパターンの容量制限がなく、大規模なデバイスのテストも可能
- テスト・モジュール構成に応じ筐体サイズを３タイプより選択可能
- 筐体内に電源・制御PCを内蔵し省スペース
Technical Column
技術の紹介
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半導体試験装置（テスタ）とは
半導体テスタとは、半導体デバイスに電気信号などを与え、出力される信号を期待値と比較することで、設計仕様通りに動作するかどうかを検査する装置です。ATE（Automated Test Equipment）ともよばれています。
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