Tester
半導体試験装置(テスタ)
半導体のウェーハ検査工程や、パッケージ後の最終検査工程で、デバイスの良否判定をおこなう装置です。ウェーハ検査工程やパッケージ後の最終工程でデバイスの良否判定をおこなう装置です。MJCは、半導体ICの開発/不良解析から量産まで、ニーズに適したテストソリューションをハード・ソフト両面からご提案します。お客さまのデバイスとテスト環境に応じ、3種類の共通プラットフォーム化された筐体をラインナップしました。テスト環境や予算に応じ、ご要望に合わせて機能を絞り込んだコストパフォーマンスの高い専用テスタ/テストシステム開発を承ります。
- 要望に応じた新たなテスト・モジュールの提供が可能で、幅広いデバイスのテストに対応
- テストパターンの容量制限がなく、大規模なデバイスのテストも可能
- テスト・モジュール構成に応じ筐体サイズを3タイプより選択可能
- 筐体内に電源・制御PCを内蔵し省スペース

Technical Column
技術の紹介
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半導体試験装置(テスタ)とは
半導体テスタとは、半導体デバイスに電気信号などを与え、出力される信号を期待値と比較することで、設計仕様通りに動作するかどうかを検査する装置です。ATE(Automated Test Equipment)ともよばれています。

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