半導体関連製品-Product-美科楽電子股份有限公司

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半導体関連製品

Taiwan MJCはさまざまなテストソリューションを提供しています。
MJCは半導体ウェハーのテストに使用するプローブカード、テスタ、ウェハープローバから最終テストに使用するテストソケットまで半導体の設計および製造品質、生産能力の向上に役立つさまざまなソリューションを提供しています。

SEMICONDUCTOR PROCESS

プローブカード

半導体製造のウェーハ検査工程において、ウェーハ上に形成されたIC (半導体集積回路)の良否判定をおこなうために用いる検査器具です。 M JC のプローブカードは、高い精度と品質で、様々なテスト環境のご要望にお応えします。
ウェーハプローバ

半導体デバイスの特性評価・良否判定のため、ウェーハにプローブをコンタクトさせテスタや測定器の電気信号を伝える装置です。 M JC は、研究開発用のマニュアルプローバからセミオートプローバまで、幅広くラインナップしています。
半導体試験装置(テスタ)

半導体のウェーハ検査工程や、パッケージ後の最終検査工程で、デバイスの良否判定をおこなう装置です。 M JC は、開発 /不良解析から量産までニーズに応じた最適なカスタムテスタを提供し、テストコストの削減に寄与します。
テストソケット

半導体製造工程の最終試験において、パッケージされた半導体デバイスを試験する際に用いる検査治具です。 M JC では高周波に適した J-C on tactsシリーズを提供しています。

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