Tester
半導體系列
晶圓探測器是一種用於在半導體開發和製造過程中對晶圓進行電氣測試的系統。 MJC 為從半導體IC的開發、不良分析到量產，提供符合需求的測試解決方案，涵蓋硬體和軟體兩方面。 根據客戶的裝置和測試環境，我們提供三種類型的共通平台化外殼。 我們也接受根據測試環境和預算，針對客戶需求提供高性價比的專用測試儀/測試系統開發。
- 可根據需求提供新的測試模組，能夠應對各種裝置的測試。
- 測試模式容量無限制，可以進行大型裝置的測試。
- 根據測試模組的構成，可從三種機殼尺寸中進行選擇。
- 機殼內部內建電源和控制電腦，節省空間。
Technical Column
技術介紹
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What is semiconductor test equipment (IC tester)?
Semiconductor test equipment (IC tester), or automated test equipment (ATE), is a system for giving electrical signals to a semiconductor device to compare output signals against expected values for the purpose of testing if the device works as specified in its design specifications.
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