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About us

公司介紹

我們努力提升追求在技術、品質與服務皆可實現高精密平面顯示器測試體制
美科樂電子成立於2004年9月,總部設立於新竹。
TMC主要經營探針卡等半導體檢測機具的銷售和維護、LCD檢測設備等的設計、製造、銷售以及維護。
Our Product

產品項目

  • TP Probe Unit (TMC)

    TP Probe Unit (TMC)

    T/P目前共有4種類型,目前業界主要測試區分為電阻式及電容式二種,以電阻式為例,主要是由上、下二層玻璃的導通來達定位功能,故主要測試項目為,面板的電阻值及短路測試二項,現行治具精度可測試的Pad大小為□120um x500um,間距為300um。

  • S/B Probe Unit (TMC)

    S/B Probe Unit (TMC)

    其待測物(Panel),已預先將待測物內的pixels區分成N個區塊,並將其訊號串連到待測物上方之Pad,其S/B主要是針對這些Pad進行點測,測試成像之畫面主要有R、G、B、黑、白、灰階這六個成像,目前治具精度可測試的Pad大小為□0.3,間距為0.5mm。

  • Custom Tester

    Custom Tester

    High pin count 33MHz tester

  • Custom Tester

    Custom Tester

    High Speed High Pin Count Tester Direct I/F with STIL  

  • 評價/解析用Prober

    評價/解析用Prober

    可大範圍應用於各種評價及解析用途之Manual Prober系列。也可使用於温度特性評價及高電壓Device評價

  • 評價/解析用 Manual Prober(12 inch/大型基板)

    評價/解析用 Manual Prober(12 inch/大型基板)

    可大範圍對應到12 inch的Wafer及FPD基板等解析之Manual Prober

  • 微小電流檢測用Manual Prober(8 inch)

    微小電流檢測用Manual Prober(8 inch)

    可大範圍對應到12 inch的Wafer及FPD基板等解析之Manual Prober。

  • U-Probe

    U-Probe

    應用獨創MEMS技術MEMS Probe「Micro Cantilever」以及使用「薄膜多層配線基板」製造技術之探針卡。

  • Vertical-Probe

    Vertical-Probe

    垂直型針尖式探針卡

  • SP-Probe

    SP-Probe

    垂直型Spring Type探針卡

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