針對小PAD規格(BC Probe)

利用重力設計控制針尖滑動量,可減輕設備損害之針種。
  • product_icon_precise高精準測量
  • product_icon_low_noise低噪音
  • product_icon_one_hand 可單手操作
  • 對應薄膜、Low-k、PoP、POAA、CUP等PAD
  • 針規可依據PAD構造及測試條件設計
*BC Probe:Bow Contact Probe
  • FPD

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  • Probe Card

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  • Wafer Prober

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  • Tester

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