U-Probe
應用獨創MEMS技術MEMS Probe「Micro Cantilever」以及使用「薄膜多層配線基板」製造技術之探針卡。
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高精準測量 -
低噪音 -
可單手操作
- 可同時使用多數memory devices測定
- 可對應12吋Wafer整體檢測
高精準測量低噪音 可單手操作
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